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基于边界扫描的某型电路板测试方法研究

梁晓芬

科技创新与应用2022，Vol.12Issue(22)：142-145,4.
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科技创新与应用2022，Vol.12Issue(22)：142-145,4.DOI:10.19981/j.CN23-1581/G3.2022.22.034

基于边界扫描的某型电路板测试方法研究

梁晓芬1

作者信息

  • 1. 国营芜湖机械厂,安徽 芜湖 241007
  • 折叠

摘要

关键词

ScanWorks/边界扫描/ATE/电路板测试

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

梁晓芬..基于边界扫描的某型电路板测试方法研究[J].科技创新与应用,2022,12(22):142-145,4.

科技创新与应用

2095-2945

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