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基于机器学习的过焦扫描显微测量方法研究

李冠楠 石俊凯 陈晓梅 高超 姜行健 崔成君 朱强 霍树春 周维虎

中国光学2022,Vol.15Issue(4):703-711,9.
中国光学2022,Vol.15Issue(4):703-711,9.DOI:10.37188/CO.2022-0009

基于机器学习的过焦扫描显微测量方法研究

Through-focus scanning optical microscopy measurement based on machine learning

李冠楠 1石俊凯 1陈晓梅 1高超 1姜行健 2崔成君 1朱强 1霍树春 1周维虎2

作者信息

  • 1. 中国科学院微电子研究所,光电技术研发中心,北京100094
  • 2. 中国科学院大学,北京100049
  • 折叠

摘要

关键词

MEMS/机器学习/过焦扫描光学显微法/微纳测量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

李冠楠,石俊凯,陈晓梅,高超,姜行健,崔成君,朱强,霍树春,周维虎..基于机器学习的过焦扫描显微测量方法研究[J].中国光学,2022,15(4):703-711,9.

基金项目

国家重点研发计划(No.2019YFB2005603) (No.2019YFB2005603)

清华大学精密测试技术及仪器国家重点实验室开放基金(No.TH20-01) (No.TH20-01)

国家自然科学基金(No.51905528) (No.51905528)

精密测试及仪器国家重点实验室开放基金(No.pilab2102) (No.pilab2102)

中国光学

OA北大核心CSCDCSTPCD

2095-1531

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