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基于LSTM的交流接触器剩余寿命预测

刘树鑫 高士珍 刘洋 李静 曹云东

高电压技术2022,Vol.48Issue(8):3210-3220,11.
高电压技术2022,Vol.48Issue(8):3210-3220,11.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.20220082

基于LSTM的交流接触器剩余寿命预测

Residual Life Prediction of AC Contactor Based on Long Short-term Memory

刘树鑫 1高士珍 1刘洋 1李静 1曹云东1

作者信息

  • 1. 教育部特种电机与高压电器重点实验室(沈阳工业大学),沈阳110870
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摘要

关键词

交流接触器/灰色关联分析/皮尔逊相关系数/特征选择/长短期记忆神经网络/剩余寿命预测

引用本文复制引用

刘树鑫,高士珍,刘洋,李静,曹云东..基于LSTM的交流接触器剩余寿命预测[J].高电压技术,2022,48(8):3210-3220,11.

基金项目

辽宁省科技重大专项(2020JH1/10100012) (2020JH1/10100012)

辽宁省教育厅项目(LJGD2020001) (LJGD2020001)

沈阳中青年科技创新人才计划(RC210354). (RC210354)

高电压技术

OA北大核心CSCDCSTPCD

1003-6520

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