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采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面

李博 李玲 朱敬军 林炜平 安竹

物理学报2022，Vol.71Issue(17)：141-152,12.
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物理学报2022，Vol.71Issue(17)：141-152,12.DOI:10.7498/aps.71.20220162

采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面

Measurements of K-shell ionization cross sections and L-shell X-ray production cross sections of Al, Ti, Cu, Ag, and Au thin films by low-energy electron impact

李博 1李玲 1朱敬军 1林炜平 1安竹1

作者信息

  • 1. 四川大学,原子核科学技术研究所,辐射物理及技术教育部重点实验室,成都 610064
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摘要

关键词

原子内壳层电离/特征X射线/截面/蒙特卡罗模拟

引用本文复制引用

李博,李玲,朱敬军,林炜平,安竹..采用薄靶方法测量低能电子致Al,Ti,Cu,Ag,Au元素K壳层电离截面与L壳层特征X射线产生截面[J].物理学报,2022,71(17):141-152,12.

基金项目

国家自然科学基金(批准号:12175158)资助的课题. （批准号:12175158）

物理学报

OA北大核心CSCDCSTPCDSCI

1000-3290

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