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叠层芯片粘接强度与剪切强度试验研究

王世楠 万永康 闫辰侃 张凯虹 虞勇坚

现代电子技术2022,Vol.45Issue(18):7-10,4.
现代电子技术2022,Vol.45Issue(18):7-10,4.DOI:10.16652/j.issn.1004⁃373x.2022.18.002

叠层芯片粘接强度与剪切强度试验研究

Research on bonding strength test and shear strength test of laminated chips

王世楠 1万永康 1闫辰侃 1张凯虹 1虞勇坚1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第五十八研究所,江苏 无锡 214000
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摘要

关键词

叠层芯片/粘接强度/剪切强度/粘接面积/载荷曲线/有限元分析/对比验证

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王世楠,万永康,闫辰侃,张凯虹,虞勇坚..叠层芯片粘接强度与剪切强度试验研究[J].现代电子技术,2022,45(18):7-10,4.

基金项目

国家自然科学基金项目(52101055) (52101055)

现代电子技术

1004-373X

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