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高温高湿环境下镍铬合金薄膜电阻器失效分析

蔡亚丽 刘丽霞 戴文斌 俞亮 岳文锋 张冲 郭全胜 贾婷婷 于淑会

集成技术2022,Vol.11Issue(5):88-98,11.
集成技术2022,Vol.11Issue(5):88-98,11.DOI:10.12146/j.issn.2095-3135.20220221001

高温高湿环境下镍铬合金薄膜电阻器失效分析

Failure Analysis of Ni-Cr Film Resistor in High Temperature and High Humidity Environment

蔡亚丽 1刘丽霞 2戴文斌 1俞亮 1岳文锋 1张冲 1郭全胜 1贾婷婷 2于淑会2

作者信息

  • 1. 中国科学院深圳先进技术研究院 深圳 518055
  • 2. 湖北大学材料科学与工程学院 武汉 430062
  • 折叠

摘要

关键词

Ni-Cr合金/薄膜电阻器/"双85"老化试验/失效模式

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

蔡亚丽,刘丽霞,戴文斌,俞亮,岳文锋,张冲,郭全胜,贾婷婷,于淑会..高温高湿环境下镍铬合金薄膜电阻器失效分析[J].集成技术,2022,11(5):88-98,11.

基金项目

广东省基础与应用基础研究基金项目(2020B1515120019) (2020B1515120019)

深圳科学技术创新委员会项目(KQTD20170810160424889) (KQTD20170810160424889)

集成技术

2095-3135

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