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高纯锗单晶的制备与位错密度分析

郝昕 甘林 胡世鹏 罗奇 吴正新 钟健 赵海歌 孙慧斌

深圳大学学报(理工版)2022,Vol.39Issue(5):504-508,5.
深圳大学学报(理工版)2022,Vol.39Issue(5):504-508,5.DOI:10.3724/SP.J.1249.2022.05504

高纯锗单晶的制备与位错密度分析

Preparation of high purity germanium single crystal and analysis of dislocation density

郝昕 1甘林 1胡世鹏 1罗奇 1吴正新 1钟健 1赵海歌 1孙慧斌1

作者信息

  • 1. 深圳大学物理与光电工程学院,广东深圳518060
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摘要

关键词

半导体材料/晶体/高纯锗制备/高纯锗探测器/单晶生长/位错密度/直拉法

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郝昕,甘林,胡世鹏,罗奇,吴正新,钟健,赵海歌,孙慧斌..高纯锗单晶的制备与位错密度分析[J].深圳大学学报(理工版),2022,39(5):504-508,5.

基金项目

国家自然科学青年基金资助项目(11905136) (11905136)

广东省自然科学基金资助项目(2018A030310636) (2018A030310636)

广东省重点领域研发计划资助项目(2020B040420005) (2020B040420005)

深圳大学学报(理工版)

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-2618

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