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低噪声触针式表面粗糙度探测系统及测量不确定度分析

史舟淼 张树 施玉书 皮磊 胡佳成

计量学报2022,Vol.43Issue(9):1122-1127,6.
计量学报2022,Vol.43Issue(9):1122-1127,6.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2022.09.03

低噪声触针式表面粗糙度探测系统及测量不确定度分析

Evaluation of the Uncertainty for the Measurement of Surface Roughness by Low-noise Probing System

史舟淼 1张树 2施玉书 3皮磊 2胡佳成3

作者信息

  • 1. 中国计量大学,浙江杭州310018
  • 2. 深圳中国计量科学研究院技术创新研究院,广东深圳518132
  • 3. 中国计量科学研究院,北京100029
  • 折叠

摘要

关键词

计量学/表面粗糙度/触针式测量仪/低噪声探测系统/Type C3标准样板/不确定度

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

史舟淼,张树,施玉书,皮磊,胡佳成..低噪声触针式表面粗糙度探测系统及测量不确定度分析[J].计量学报,2022,43(9):1122-1127,6.

基金项目

国家重点研发项目(2018YFF0212300) (2018YFF0212300)

质量技术基础能力建设(ANL2003) (ANL2003)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

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