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适于少样本缺陷检测的两阶段缺陷增强网络

陈朝刘志李恭杨彭铁根

计算机工程与应用2022，Vol.58Issue(20)：108-116,9.

计算机工程与应用2022，Vol.58Issue(20)：108-116,9.DOI:10.3778/j.issn.1002-8331.2111-0470

Two-Phase Defect Enhancement Network for Few-Shot Defect Detection

陈朝 ¹刘志 ¹李恭杨 ¹彭铁根²

作者信息

缺陷检测/少样本学习/无缺陷样本/两阶段缺陷增强网络/缺陷突显模块

信息技术与安全科学

陈朝,刘志,李恭杨,彭铁根..适于少样本缺陷检测的两阶段缺陷增强网络[J].计算机工程与应用,2022,58(20):108-116,9.

国家自然科学基金(61771301). （61771301）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1002-8331

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