实验科学与技术2022，Vol.20Issue(4)：13-17,5.DOI:10.12179/1672-4550.20210149
开尔文探针原子力显微镜在CdTe多晶薄膜研究中的应用
The Application of Kelvin Probe Force Microscope in CdTe Polycrystalline Semiconductor Thin Films
摘要
关键词
开尔文探针原子力显微镜/表面功函数/碲化隔/晶粒/晶界分类
数理科学引用本文复制引用
王文武,李创,曾广根,张静全,叶金文..开尔文探针原子力显微镜在CdTe多晶薄膜研究中的应用[J].实验科学与技术,2022,20(4):13-17,5.基金项目
国家863高技术研究发展计划专项"新型高效率碲化隔薄膜太阳电池的研制"(2015AA050610) （2015AA050610）
2019年四川大学实验技术改革项目(scu201064) （scu201064）
四川省教改项目"新工科"背景下材料科学与工程类一流专业内涵式建设探索与创新实践(JG2021-52). （JG2021-52）
