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SiC JBS二极管和SiC MOSFET的空间辐照效应及机理

张鸿 郭红霞 顾朝桥 柳奕天 张凤祁 潘霄宇 琚安安 刘晔 冯亚辉

太赫兹科学与电子信息学报2022,Vol.20Issue(9):884-896,13.
太赫兹科学与电子信息学报2022,Vol.20Issue(9):884-896,13.DOI:10.11805/TKYDA2021444

SiC JBS二极管和SiC MOSFET的空间辐照效应及机理

Radiation effects of SiC JBS diodes and SiC MOSFETs

张鸿 1郭红霞 2顾朝桥 1柳奕天 1张凤祁 2潘霄宇 2琚安安 1刘晔 1冯亚辉1

作者信息

  • 1. 湘潭大学 材料科学与工程学院,湖南 湘潭 411105
  • 2. 西北核技术研究所,陕西 西安 710024
  • 折叠

摘要

关键词

碳化硅结型肖特基二极管/碳化硅场效应晶体管/单粒子烧毁/计算机辅助设计/总剂量效应/位移损伤效应

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

张鸿,郭红霞,顾朝桥,柳奕天,张凤祁,潘霄宇,琚安安,刘晔,冯亚辉..SiC JBS二极管和SiC MOSFET的空间辐照效应及机理[J].太赫兹科学与电子信息学报,2022,20(9):884-896,13.

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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