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H2和H2O对双极器件抗辐射性能的影响规律和机制

马武英 缑石龙 郭红霞 姚志斌 何宝平 王祖军 盛江坤

太赫兹科学与电子信息学报2022，Vol.20Issue(9)：897-902,6.
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太赫兹科学与电子信息学报2022，Vol.20Issue(9)：897-902,6.DOI:10.11805/TKYDA2022003

H2和H2O对双极器件抗辐射性能的影响规律和机制

Effect of H22 and H22O on the total dose effect of bipolar devices

马武英 1缑石龙 2郭红霞 1姚志斌 2何宝平 2王祖军 2盛江坤2

作者信息

  • 1. 西安交通大学 核科学与技术学院,陕西 西安 710049
  • 2. 西北核技术研究所 强脉冲辐射环境模拟与效应国家重点实验室,陕西 西安 710024
  • 折叠

摘要

关键词

双极器件/电离总剂量/湿度/氢/γ射线

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

马武英,缑石龙,郭红霞,姚志斌,何宝平,王祖军,盛江坤..H2和H2O对双极器件抗辐射性能的影响规律和机制[J].太赫兹科学与电子信息学报,2022,20(9):897-902,6.

基金项目

国家重点实验室基金资助项目(SKLIPR1802) （SKLIPR1802）

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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