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HEMT器件质子辐射效应仿真

马毛旦 曹艳荣 吕航航 王志恒 任晨 张龙涛 吕玲 郑雪峰 马晓华

太赫兹科学与电子信息学报2022,Vol.20Issue(9):922-926,933,6.
太赫兹科学与电子信息学报2022,Vol.20Issue(9):922-926,933,6.DOI:10.11805/TKYDA2022010

HEMT器件质子辐射效应仿真

Simulation of proton radiation effect in HEMT devices

马毛旦 1曹艳荣 2吕航航 1王志恒 2任晨 1张龙涛 2吕玲 1郑雪峰 2马晓华1

作者信息

  • 1. 西安电子科技大学 机电工程学院,陕西 西安 710071
  • 2. 西安电子科技大学 宽禁带半导体技术国家重点实验室,陕西 西安 710071
  • 折叠

摘要

关键词

GaN材料/HEMT器件/MIS-HEMT器件/质子辐射仿真

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

马毛旦,曹艳荣,吕航航,王志恒,任晨,张龙涛,吕玲,郑雪峰,马晓华..HEMT器件质子辐射效应仿真[J].太赫兹科学与电子信息学报,2022,20(9):922-926,933,6.

基金项目

北京智芯微电子科技有限公司实验室开放基金资助项目 ()

国家自然科学基金资助项目(11690042 ()

U1866212 ()

12035019 ()

61727804 ()

11690040) ()

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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