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SiC MOSFET栅源电压评估及驱动回路参数优化设计方法

秦海鸿 谢斯璇 卜飞飞 陈文明 黄文新

中国电机工程学报2022,Vol.42Issue(18):6823-6834,12.
中国电机工程学报2022,Vol.42Issue(18):6823-6834,12.DOI:10.13334/j.0258-8013.pcsee.211880

SiC MOSFET栅源电压评估及驱动回路参数优化设计方法

Gate-source Voltage Evaluation and Parameter Optimized Designed Method of Driving Circuit for SiC MOSFET

秦海鸿 1谢斯璇 1卜飞飞 1陈文明 1黄文新1

作者信息

  • 1. 南京航空航天大学,江苏省 南京市211106
  • 折叠

摘要

关键词

碳化硅金属氧化物半导体场效应管/寄生参数/栅源电压/驱动参数设计

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

秦海鸿,谢斯璇,卜飞飞,陈文明,黄文新..SiC MOSFET栅源电压评估及驱动回路参数优化设计方法[J].中国电机工程学报,2022,42(18):6823-6834,12.

基金项目

南京电子器件研究所宽禁带半导体电力电子器件国家重点实验室开放基金(2019KF001) (2019KF001)

国家自然科学基金项目(51677089). (51677089)

中国电机工程学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0258-8013

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