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单区JTE终端结构4H-SiC PIN雪崩二极管击穿特性研究

陈红富 王奕锦 俞彦伟 陈志鹏 何嘉诚 高子建 罗曼 余晨辉

南通大学学报:自然科学版2022,Vol.21Issue(3):P.42-49,8.
南通大学学报:自然科学版2022,Vol.21Issue(3):P.42-49,8.DOI:10.12194/j.ntu.20210917002

单区JTE终端结构4H-SiC PIN雪崩二极管击穿特性研究

陈红富 1王奕锦 1俞彦伟 1陈志鹏 1何嘉诚 1高子建 1罗曼 1余晨辉1

作者信息

  • 1. 南通大学,信息科学技术学院,江苏省专用集成电路设计重点实验室,江苏南通226019
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摘要

关键词

碳化硅/二极管/结终端扩展/击穿电压

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

陈红富,王奕锦,俞彦伟,陈志鹏,何嘉诚,高子建,罗曼,余晨辉..单区JTE终端结构4H-SiC PIN雪崩二极管击穿特性研究[J].南通大学学报:自然科学版,2022,21(3):P.42-49,8.

基金项目

国家自然科学基金面上项目(62074085) (62074085)

国家自然科学基金青年科学基金项目(62104118)。 (62104118)

南通大学学报:自然科学版

1673-2340

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