电子器件2022，Vol.45Issue(3)：538-544,7.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2022.03.006
GaN HEMT器件寿命预测方法及理论研究
Life Prediction Methods and Theoretical Research of GaN HEMT Devices
摘要
关键词
GaN HEMT/可靠性/寿命预测分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王保柱,赵晋源,苏雪平,张明,杨琳,侯卫民..GaN HEMT器件寿命预测方法及理论研究[J].电子器件,2022,45(3):538-544,7.基金项目
河北省自然科学基金项目(F2020208005) （F2020208005）
