印制电路板静电放电耦合功率分析OA

当带电物体靠近电子设备时,会产生静电放电(ESD)现象,对电子设备造成干扰。提出一种频域测量的新方法来估计系统级静电放电耦合的功率,受试设备的Z参数由测量(仿真)得到,再经过推导得到系统级的功率耦合函数,并与全波模型和等效电路电路模型的仿真结果进行比较。结果表明提出的频域分析方法得到的耦合功率与仿真结果具有良好的一致性,该测量方法可以有效地对静电耦合功率进行分析,避免电子系统建模,对电子系统的设计有一定指导意义。