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倒扣封装芯片单粒子效应试验有效性保证技术

游红俊孙逸帆朱新忠高洁王帆

现代应用物理2022，Vol.13Issue(3)：P.158-163,169,7.

现代应用物理2022，Vol.13Issue(3)：P.158-163,169,7.DOI:10.12061/j.issn.2095-6223.2022.030602

游红俊 ¹孙逸帆 ¹朱新忠 ¹高洁 ¹王帆¹

作者信息

单粒子效应/重离子辐照试验/倒扣封装芯片/工装/试验有效性

信息技术与安全科学

游红俊,孙逸帆,朱新忠,高洁,王帆..倒扣封装芯片单粒子效应试验有效性保证技术[J].现代应用物理,2022,13(3):P.158-163,169,7.

HIRFL用户培育基金资助项目(HIR19PY014)。（HIR19PY014）

OACSTPCD

ISSN：2095-6223

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