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绝缘子表面灰密的测量影响因素分析

燕宝峰 车传强 赵建坤 高思明 曹彬 赵晨龙 王黎明

电瓷避雷器Issue(5):172-177,6.
电瓷避雷器Issue(5):172-177,6.DOI:10.16188/j.isa.1003-8337.2022.05.026

绝缘子表面灰密的测量影响因素分析

Influencing Factors on Measurement of Insulator Non-Soluble Deposit Density

燕宝峰 1车传强 1赵建坤 1高思明 2曹彬 2赵晨龙 2王黎明2

作者信息

  • 1. 内蒙古电力科学研究院,呼和浩特010020
  • 2. 清华大学深圳国际研究生院,广东深圳518055
  • 折叠

摘要

关键词

绝缘子污秽/灰密/测量方法/影响因素

引用本文复制引用

燕宝峰,车传强,赵建坤,高思明,曹彬,赵晨龙,王黎明..绝缘子表面灰密的测量影响因素分析[J].电瓷避雷器,2022,(5):172-177,6.

基金项目

国家自然科学基金(编号:52007095). (编号:52007095)

电瓷避雷器

OA北大核心

1003-8337

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