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使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度

余涛 郭思明 周建斌 蒋政 郄晓雨 郭锴悦 吴金杰

计量学报2022,Vol.43Issue(10):1366-1370,5.
计量学报2022,Vol.43Issue(10):1366-1370,5.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2022.10.18

使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度

Experimental Calibration of CdTe Detection Efficiency Using Single-energy X-ray Radiation Device

余涛 1郭思明 2周建斌 2蒋政 1郄晓雨 1郭锴悦 2吴金杰2

作者信息

  • 1. 成都理工大学,四川 成都610059
  • 2. 中国计量科学研究院,北京100029
  • 折叠

摘要

关键词

计量学/CdTe探测器/本征探测效率/蒙特卡罗/探测效率刻度

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

余涛,郭思明,周建斌,蒋政,郄晓雨,郭锴悦,吴金杰..使用单能X射线辐射装置对CdTe探测效率的实验刻度[J].计量学报,2022,43(10):1366-1370,5.

基金项目

中国计量科学研究院基本科研业务费(AKYZZ2115) (AKYZZ2115)

计量学报

OA北大核心CSTPCD

1000-1158

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