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针对密码芯片电磁辐射泄漏的特征选择方法

文毅 郭澍 孔昊 郭剑虹

信息安全研究2022,Vol.8Issue(12):P.1214-1222,9.
信息安全研究2022,Vol.8Issue(12):P.1214-1222,9.DOI:10.12379/j.issn.2096-1057.2022.12.09

针对密码芯片电磁辐射泄漏的特征选择方法

文毅 1郭澍 1孔昊 1郭剑虹1

作者信息

  • 1. 国家应用软件产品质量检验检测中心(北京软件产品质量检测检验中心),北京100193
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摘要

关键词

模板攻击/侧信道攻击/特征选择/汉明重量模型/相关系数/欧氏距离/SM4分组密码

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

文毅,郭澍,孔昊,郭剑虹..针对密码芯片电磁辐射泄漏的特征选择方法[J].信息安全研究,2022,8(12):P.1214-1222,9.

基金项目

国家重点研发计划项目(2017YFF0209602)。 (2017YFF0209602)

信息安全研究

OACSCDCSTPCD

2096-1057

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