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多层陶瓷电容器开裂失效机理研究及改进建议

黄义隆 林道谭 陈欢 邓晶 李晋伟

电子器件2022,Vol.45Issue(5):P.1071-1076,6.
电子器件2022,Vol.45Issue(5):P.1071-1076,6.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2022.05.009

多层陶瓷电容器开裂失效机理研究及改进建议

黄义隆 1林道谭 2陈欢 1邓晶 2李晋伟1

作者信息

  • 1. 中国南方电网超高压输电公司检修试验中心,广东广州510670
  • 2. 工业和信息化部电子第五研究所,广东广州511370
  • 折叠

摘要

关键词

多层陶瓷电容器/裂纹/失效分析/板面变形

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

黄义隆,林道谭,陈欢,邓晶,李晋伟..多层陶瓷电容器开裂失效机理研究及改进建议[J].电子器件,2022,45(5):P.1071-1076,6.

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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