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基于STM32微控制器的电容式微位移测量系统的设计

刘玉良 叶扬扬 孙维一 王勇斌 陈建梁 杨伟明

天津科技大学学报2022,Vol.37Issue(6):38-44,7.
天津科技大学学报2022,Vol.37Issue(6):38-44,7.DOI:10.13364/j.issn.1672-6510.20220027

基于STM32微控制器的电容式微位移测量系统的设计

Design of Capacitance Micro-Displacement Measurement System Based on STM32 Microcontroller

刘玉良 1叶扬扬 1孙维一 1王勇斌 1陈建梁 1杨伟明1

作者信息

  • 1. 天津科技大学电子信息与自动化学院,天津 300222
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摘要

关键词

电容式传感器/STM32/电容梯度/微位移测量

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

刘玉良,叶扬扬,孙维一,王勇斌,陈建梁,杨伟明..基于STM32微控制器的电容式微位移测量系统的设计[J].天津科技大学学报,2022,37(6):38-44,7.

基金项目

天津市科技计划资助项目(21YDTPJC00500) (21YDTPJC00500)

天津科技大学学报

1672-6510

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