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28 nm CMOS工艺8-Gbps SerDes单粒子辐射特性研究

文溢 陈建军 梁斌 池雅庆 黄俊

电子学报2022,Vol.50Issue(11):2653-2658,6.
电子学报2022,Vol.50Issue(11):2653-2658,6.DOI:10.12263/DZXB.20211691

28 nm CMOS工艺8-Gbps SerDes单粒子辐射特性研究

Research on Single-Event Radiation Characteristics of an 8-Gbps SerDes in a 28 nm CMOS Technology

文溢 1陈建军 1梁斌 1池雅庆 1黄俊1

作者信息

  • 1. 国防科技大学计算机科学学院,湖南长沙410073
  • 折叠

摘要

关键词

串转并/并转串接口/单粒子效应/双指数电流源仿真/敏感节点/脉冲激光测试

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

文溢,陈建军,梁斌,池雅庆,黄俊..28 nm CMOS工艺8-Gbps SerDes单粒子辐射特性研究[J].电子学报,2022,50(11):2653-2658,6.

基金项目

国家自然科学基金(No.61974163) (No.61974163)

国防科技大学高层次创新人才培训计划项目(No.4142D125106,No.434517212306) (No.4142D125106,No.434517212306)

电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0372-2112

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