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基于脉冲电流和紫外测弧的开关柜局部放电缺陷识别方法

丁浩苏志雄王婷婷赵振中张周胜

高电压技术2022，Vol.48Issue(11)：4527-4537,11.

高电压技术2022，Vol.48Issue(11)：4527-4537,11.DOI:10.13336/j.1003-6520.hve.202111074

Partial Discharge Defect Identification Method of Switch Cabinet Based on Pulse Current and Ultraviolet Arc Measurement

丁浩 ¹苏志雄 ¹王婷婷 ¹赵振中 ¹张周胜¹

作者信息

开关柜/局部放电/脉冲电流/KNN算法/缺陷识别

丁浩,苏志雄,王婷婷,赵振中,张周胜..基于脉冲电流和紫外测弧的开关柜局部放电缺陷识别方法[J].高电压技术,2022,48(11):4527-4537,11.

上海市科学技术委员会项目(20020500800). （20020500800）

OA北大核心CSCDCSTPCD

ISSN：1003-6520

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