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基于多层膜沉积的循迹式线宽标准样片

赵琳 韩志国 张晓东 许晓青 李锁印 吴爱华

计量学报2022,Vol.43Issue(12):1549-1553,5.
计量学报2022,Vol.43Issue(12):1549-1553,5.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2022.12.04

基于多层膜沉积的循迹式线宽标准样片

Tracking Type Line Width Standard Sample Based on Multilayer Film Deposition

赵琳 1韩志国 1张晓东 1许晓青 1李锁印 1吴爱华1

作者信息

  • 1. 中国电子科技集团公司第十三研究所,河北石家庄050051
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摘要

关键词

计量学/线宽标准/关键尺寸/多层膜沉积/循迹标记

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

赵琳,韩志国,张晓东,许晓青,李锁印,吴爱华..基于多层膜沉积的循迹式线宽标准样片[J].计量学报,2022,43(12):1549-1553,5.

基金项目

国防技术基础计量项目(JSJL2019210B004) (JSJL2019210B004)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

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