中国计量大学学报2022，Vol.33Issue(4)：533-538,6.DOI:10.3969/j.issn.2096-2835.2022.04.010
用于LED芯片检测的景深合成系统
A super depth-of-field system for LED chip detection
王笔神 1刘红林1
作者信息
- 1. 中国计量大学光学与电子科技学院,浙江杭州310018
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摘要
关键词
LED检测/景深合成/拉普拉斯金字塔分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
王笔神,刘红林..用于LED芯片检测的景深合成系统[J].中国计量大学学报,2022,33(4):533-538,6.
