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基于神经网络的IGBT模块剩余使用寿命预测模型

郭子庆 王学华

电测与仪表2023,Vol.60Issue(1):132-138,7.
电测与仪表2023,Vol.60Issue(1):132-138,7.DOI:10.19753/j.issn1001-1390.2023.01.019

基于神经网络的IGBT模块剩余使用寿命预测模型

Prediction model of neural network-based IGBT module remaining service life

郭子庆 1王学华1

作者信息

  • 1. 华中科技大学电气与电子工程学院,武汉430074
  • 折叠

摘要

关键词

IGBT模块寿命预测/老化机理/分段拟合/神经网络

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郭子庆,王学华..基于神经网络的IGBT模块剩余使用寿命预测模型[J].电测与仪表,2023,60(1):132-138,7.

基金项目

国家重点研发计划项目(2018YFB0905705) (2018YFB0905705)

电测与仪表

OA北大核心CSTPCD

1001-1390

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