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通用板卡芯片测试系统的设计与应用

王慧敏 李永红 岳凤英 张伦

单片机与嵌入式系统应用2023,Vol.23Issue(1):88-91,4.
单片机与嵌入式系统应用2023,Vol.23Issue(1):88-91,4.

通用板卡芯片测试系统的设计与应用

Design and Application of General Purpose Board Chip Test System

王慧敏 1李永红 1岳凤英 2张伦3

作者信息

  • 1. 中北大学仪器与电子学院,太原030051
  • 2. 中北大学电气与控制工程学院
  • 3. 中北大学信息与通信工程学院
  • 折叠

摘要

关键词

芯片测试/驱动板/信号采集/上位机

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王慧敏,李永红,岳凤英,张伦..通用板卡芯片测试系统的设计与应用[J].单片机与嵌入式系统应用,2023,23(1):88-91,4.

单片机与嵌入式系统应用

OACSTPCD

1009-623X

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