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界面缺陷及老化状态下电力电子器件封装绝缘应力波检测与分析

何东欣 魏君宇 王婉君 徐喆 李清泉

电工技术学报2023，Vol.38Issue(3)：610-621,12.
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电工技术学报2023，Vol.38Issue(3)：610-621,12.DOI:10.19595/j.cnki.1000-6753.tces.221282

界面缺陷及老化状态下电力电子器件封装绝缘应力波检测与分析

Detection and Analysis of Stress Wave in Power Electronic Device Packaging Insulation under Interface Defects and Aging Conditions

何东欣 1魏君宇 1王婉君 2徐喆 1李清泉1

作者信息

  • 1. 山东大学电气工程学院山东省特高压输变电技术与装备重点实验室 济南 250061
  • 2. 国网山东省电力公司济南供电公司 济南 250000
  • 折叠

摘要

关键词

电力电子器件/应力波/状态监测/界面缺陷/老化状态

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

何东欣,魏君宇,王婉君,徐喆,李清泉..界面缺陷及老化状态下电力电子器件封装绝缘应力波检测与分析[J].电工技术学报,2023,38(3):610-621,12.

基金项目

国家自然科学基金(51907105,U1966209)和山东省自然科学基金(ZR2019QEE013)资助项目. （51907105,U1966209）

电工技术学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6753

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