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基于0.25μm BCD工艺的一种新型低温漂欠压保护电路

郭敏 王立新 谢红云 张洪凯 崔梦瑶 陈润泽 刘先程

电子器件2022,Vol.45Issue(6):1307-1311,5.
电子器件2022,Vol.45Issue(6):1307-1311,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2022.06.006

基于0.25μm BCD工艺的一种新型低温漂欠压保护电路

A New Low Temperature Drift Under-Voltage Protection Circuit Based on 0.25 μm BCD Process

郭敏 1王立新 2谢红云 1张洪凯 2崔梦瑶 2陈润泽 2刘先程1

作者信息

  • 1. 北京工业大学信息学部,北京100124
  • 2. 中国科学院 微电子研究所,北京100029
  • 折叠

摘要

关键词

欠压保护/迟滞/阈值电压/高阶温度补偿/低温漂

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

郭敏,王立新,谢红云,张洪凯,崔梦瑶,陈润泽,刘先程..基于0.25μm BCD工艺的一种新型低温漂欠压保护电路[J].电子器件,2022,45(6):1307-1311,5.

基金项目

国家自然科学基金项目(61604106,61774012,61901010) (61604106,61774012,61901010)

北京市自然科学基金项目(4192014) (4192014)

电子器件

OA北大核心CSTPCD

1005-9490

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