物理学报2023，Vol.72Issue(2)：124-132,9.DOI:10.7498/aps.72.20221303
SiC光学材料亚表面缺陷的光热辐射检测
Detection of subsurface defects in silicon carbide bulk materials with photothermal radiometry
刘远峰 1李斌成 1赵斌兴 1刘红2
作者信息
- 1. 电子科技大学光电科学与工程学院, 成都 610054
- 2. 中国科学院光电技术研究所, 成都 610209
- 折叠
引用本文复制引用
刘远峰,李斌成,赵斌兴,刘红..SiC光学材料亚表面缺陷的光热辐射检测[J].物理学报,2023,72(2):124-132,9.
