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微电路模块板级磁芯组装失效机理与工艺设计

黄国平 汤春江 李刚 唐锴

现代电子技术2023,Vol.46Issue(4):7-12,6.
现代电子技术2023,Vol.46Issue(4):7-12,6.DOI:10.16652/j.issn.1004-373x.2023.04.002

微电路模块板级磁芯组装失效机理与工艺设计

Assembly failure mechanism and process design for board-level magnetic cores in microcircuit module

黄国平 1汤春江 1李刚 1唐锴1

作者信息

  • 1. 华东微电子技术研究所 微系统安徽省重点实验室,安徽 合肥 230088
  • 折叠

摘要

关键词

微电路模块/板级磁芯/磁芯粘接/旋转灌封/组装工艺/组装失效

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

黄国平,汤春江,李刚,唐锴..微电路模块板级磁芯组装失效机理与工艺设计[J].现代电子技术,2023,46(4):7-12,6.

基金项目

军用电子元器件科研项目(2006ZYTH0013) (2006ZYTH0013)

现代电子技术

1004-373X

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