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基于双核架构的全电子引信测试仪设计

周孟哲 周伟

太赫兹科学与电子信息学报2023,Vol.21Issue(2):176-182,7.
太赫兹科学与电子信息学报2023,Vol.21Issue(2):176-182,7.DOI:10.11805/TKYDA2020493

基于双核架构的全电子引信测试仪设计

Design of full electronic fuze tester based on dual core architecture

周孟哲 1周伟1

作者信息

  • 1. 中国工程物理研究院 电子工程研究所,四川 绵阳 621999
  • 折叠

摘要

关键词

双核/全电子引信测试/无源导通电阻/四线制

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

周孟哲,周伟..基于双核架构的全电子引信测试仪设计[J].太赫兹科学与电子信息学报,2023,21(2):176-182,7.

太赫兹科学与电子信息学报

OACSTPCD

2095-4980

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