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基于电路-概率理论的对神经电刺激不稳定性的定性分析

余守骏 岳文基 阮越 董鹏 陈支通 李铭源 宋冰 王昊

集成技术2023，Vol.12Issue(2)：20-28,9.
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集成技术2023，Vol.12Issue(2)：20-28,9.DOI:10.12146/j.issn.2095-3135.20221013001

基于电路-概率理论的对神经电刺激不稳定性的定性分析

Qualitative Analysis of Instability on Electrical Nerve Stimulation Based on Circuit-Probability Theory

余守骏 1岳文基 1阮越 2董鹏 3陈支通 1李铭源 4宋冰 5王昊1

作者信息

  • 1. 中国科学院深圳先进技术研究院 深圳 518055
  • 2. 剑桥大学 Wellcome-MRC代谢科学研究所 剑桥 CB20QQ
  • 3. 霍华德·休斯医学研究所珍利亚研究园区 阿什本 VA 20147
  • 4. 国家高性能医疗器械创新中心 深圳 518000
  • 5. 澳门大学中华医药研究院中药质量研究国家重点实验室 澳门 999078
  • 折叠

摘要

关键词

神经电刺激/电路概率理论/电路仿真/计算模型

分类

生物科学

引用本文复制引用

余守骏,岳文基,阮越,董鹏,陈支通,李铭源,宋冰,王昊..基于电路-概率理论的对神经电刺激不稳定性的定性分析[J].集成技术,2023,12(2):20-28,9.

基金项目

广东省基础与应用基础研究项目(2019A1515110843,2022A1515011129) （2019A1515110843,2022A1515011129）

深圳市国际合作项目(GJHZ20200731095206018) （GJHZ20200731095206018）

集成技术

2095-3135

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