|国家科技期刊平台
| 注册
首页|期刊导航|含能材料|温度对半导体桥电爆性能影响研究

温度对半导体桥电爆性能影响研究

王成爱 许建兵 沈云 王悦听 沈瑞琪 叶迎华

含能材料2023，Vol.31Issue(3)：235-242,8.
✕
含能材料2023，Vol.31Issue(3)：235-242,8.DOI:10.11943/CJEM2021226

温度对半导体桥电爆性能影响研究

Effects of Temperature on the Electrical Explosion of SCB

王成爱 1许建兵 2沈云 1王悦听 2沈瑞琪 1叶迎华2

作者信息

  • 1. 南京理工大学化学与化工学院, 江苏 南京 210094
  • 2. 微纳含能器件工信部重点实验室, 江苏 南京 210094
  • 折叠

摘要

关键词

半导体桥/温度/电爆炸/点火

分类

军事科技

引用本文复制引用

王成爱,许建兵,沈云,王悦听,沈瑞琪,叶迎华..温度对半导体桥电爆性能影响研究[J].含能材料,2023,31(3):235-242,8.

基金项目

航天进入减速与着陆技术实验室开放基金资助(EDL1909213-2) （EDL1909213-2）

含能材料

OA北大核心CSCDCSTPCD

1006-9941

访问量0
|
下载量0
段落导航相关论文