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基于高加速应力筛选的电子产品筛选剖面研究

诸戈 汤杰 漆斌 郭森 姚永超

空天防御2023，Vol.6Issue(1)：17-22,37,7.
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空天防御2023，Vol.6Issue(1)：17-22,37,7.

基于高加速应力筛选的电子产品筛选剖面研究

Research on Screening Profile of Electronic Devices Based on Highly Accelerated Stress Screening

诸戈 1汤杰 2漆斌 1郭森 1姚永超1

作者信息

  • 1. 上海机电工程研究所,上海 201109
  • 2. 上海航天精密机械研究所,上海 201600
  • 折叠

摘要

关键词

高加速应力筛选/电子产品/筛选剖面

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

诸戈,汤杰,漆斌,郭森,姚永超..基于高加速应力筛选的电子产品筛选剖面研究[J].空天防御,2023,6(1):17-22,37,7.

基金项目

国防基础科研计划(JCKY2016203C009) （JCKY2016203C009）

空天防御

2096-4641

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