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基于SOPC技术的芯片批量测试板设计与实现

易凡 马静怡

现代信息科技2023,Vol.7Issue(6):88-91,4.
现代信息科技2023,Vol.7Issue(6):88-91,4.DOI:10.19850/j.cnki.2096-4706.2023.06.023

基于SOPC技术的芯片批量测试板设计与实现

Design and Implementation of Chip Batch Testing Board Based on SOPC Technology

易凡 1马静怡1

作者信息

  • 1. 郑州科技学院,河南郑州 450064
  • 折叠

摘要

关键词

SoC/批量测试/现场可编程门阵列/上位机

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

易凡,马静怡..基于SOPC技术的芯片批量测试板设计与实现[J].现代信息科技,2023,7(6):88-91,4.

现代信息科技

2096-4706

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