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考虑弛豫效应的SiC MOSFET阈值电压测量方法研究

王臻卓 任婷婷

电子器件2023,Vol.46Issue(1):74-78,5.
电子器件2023,Vol.46Issue(1):74-78,5.DOI:10.3969/j.issn.1005-9490.2023.01.013

考虑弛豫效应的SiC MOSFET阈值电压测量方法研究

Threshold Voltage Measurement Method of SiC MOSFET Considering the Hysteresis Effect

王臻卓 1任婷婷2

作者信息

  • 1. 河南工业职业技术学院教务处,河南 南阳473000
  • 2. 山西大学电力与建筑学院,山西 太原030000
  • 折叠

摘要

关键词

SiC MOSFET/阈值电压测量/弛豫效应/预偏置条件

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

王臻卓,任婷婷..考虑弛豫效应的SiC MOSFET阈值电压测量方法研究[J].电子器件,2023,46(1):74-78,5.

基金项目

河南省科技攻关项目(212102310086) (212102310086)

电子器件

OACSTPCD

1005-9490

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