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低介电常数陶瓷微波介电性能评价的关键问题

李雷 陈湘明

硅酸盐学报2023,Vol.51Issue(4):899-906,8.
硅酸盐学报2023,Vol.51Issue(4):899-906,8.DOI:10.14062/j.issn.0454-5648.20220711

低介电常数陶瓷微波介电性能评价的关键问题

Key Problems in Microwave Dielectric Characterization of Low-Dielectric-Constant Ceramics

李雷 1陈湘明1

作者信息

  • 1. 浙江大学材料科学与工程学院电介质材料研究室,杭州 310027
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摘要

关键词

低介电常数/微波介电性能评价/平行板法/谐振腔法/测试可靠性

引用本文复制引用

李雷,陈湘明..低介电常数陶瓷微波介电性能评价的关键问题[J].硅酸盐学报,2023,51(4):899-906,8.

基金项目

国家自然科学基金(52272128,U20A20243). (52272128,U20A20243)

硅酸盐学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

0454-5648

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