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液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用

索金亮 朱忠发 王彬 樊成 张俊 黄助兵

液晶与显示2023,Vol.38Issue(4):479-487,9.
液晶与显示2023,Vol.38Issue(4):479-487,9.DOI:10.37188/CJLCD.2022-0360

液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用

Design and application of LCD electronic limit sample for Particle Gap

索金亮 1朱忠发 1王彬 1樊成 1张俊 1黄助兵1

作者信息

  • 1. 合肥京东方显示技术有限公司, 安徽 合肥 230012
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摘要

关键词

Particle Gap缺陷/限度样本/HSB颜色值/检测准确率

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

索金亮,朱忠发,王彬,樊成,张俊,黄助兵..液晶面板晕开缺陷的电子限度样本设计与应用[J].液晶与显示,2023,38(4):479-487,9.

液晶与显示

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-2780

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