舰船电子工程2023，Vol.43Issue(1)：149-154,6.DOI:10.3969/j.issn.1672-9730.2023.01.031
典型集成电路可靠性评价方案研究
Research on Reliability Evaluation Scheme of Typical Integrated Circuits
武荣荣 1高会壮 1王长鑫 1陈波1
作者信息
- 1. 航天科工防御技术研究试验中心 北京 100039
- 折叠
摘要
关键词
元器件/集成电路/失效模式/失效机理/故障树/可靠性风险/要素/评价方案分类
信息技术与安全科学引用本文复制引用
武荣荣,高会壮,王长鑫,陈波..典型集成电路可靠性评价方案研究[J].舰船电子工程,2023,43(1):149-154,6.
