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Cu-Ni-Si合金带材表面白线缺陷成因分析

张英 孟凡俭 方晓阳 刘爱奎

铜业工程Issue(2):92-100,9.
铜业工程Issue(2):92-100,9.DOI:10.3969/j.issn.1009-3842.2023.02.013

Cu-Ni-Si合金带材表面白线缺陷成因分析

Cause Analysis of White Line Defects on Cu-Ni-Si Alloy Strip Surface

张英 1孟凡俭 1方晓阳 2刘爱奎1

作者信息

  • 1. 凯美龙精密铜板带(河南)有限公司,河南 新乡 453000
  • 2. 浙江大学交叉力学中心,浙江 杭州 310027
  • 折叠

摘要

关键词

Cu-Ni-Si合金带材/白线缺陷/微观形貌/铸锭疏松

分类

矿业与冶金

引用本文复制引用

张英,孟凡俭,方晓阳,刘爱奎..Cu-Ni-Si合金带材表面白线缺陷成因分析[J].铜业工程,2023,(2):92-100,9.

基金项目

2022年度河南省重大科技专项(221100210300)资助 (221100210300)

铜业工程

1009-3842

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