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SiO2-SiNx体系光学谐振腔中Ti超导薄膜特性的研究

刘海燕 孙潇莹 李劲劲 王雪深 陈建 高鹤 周哲海 徐骁龙

计量学报2023,Vol.44Issue(4):549-554,6.
计量学报2023,Vol.44Issue(4):549-554,6.DOI:10.3969/j.issn.1000-1158.2023.04.09

SiO2-SiNx体系光学谐振腔中Ti超导薄膜特性的研究

Research on the Properties of Ti Superconducting Thin Films in SiO2-SiNx System Optical Resonator

刘海燕 1孙潇莹 2李劲劲 3王雪深 3陈建 3高鹤 3周哲海 1徐骁龙3

作者信息

  • 1. 北京信息科技大学机械行业现代光电测试技术重点实验室,北京100192
  • 2. 中国计量科学研究院,北京100029||沈阳化工大学,辽宁沈阳110142
  • 3. 中国计量科学研究院,北京100029
  • 折叠

摘要

关键词

计量学/TES/超导薄膜/光学谐振腔/SiO2-SiNx体系/Ti膜

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

刘海燕,孙潇莹,李劲劲,王雪深,陈建,高鹤,周哲海,徐骁龙..SiO2-SiNx体系光学谐振腔中Ti超导薄膜特性的研究[J].计量学报,2023,44(4):549-554,6.

基金项目

国家自然科学基金青年科学基金(61901432,61701470) (61901432,61701470)

国家市场监督管理总局科技计划(2020MK153,2019MK112) (2020MK153,2019MK112)

中国计量科学研究院基本科研业务费重点领域项目(AKYZD1903) (AKYZD1903)

北京长城学者支持计划(CIT&TCD20190323) (CIT&TCD20190323)

北京青年拔尖人才支持计划(Z2019042) (Z2019042)

计量学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-1158

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