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用于集成电路检测的拨码装置设计

韩伟娜 周文娟 王士文 高艳彩

中国科技成果2023,Vol.24Issue(10):23-25,3.
中国科技成果2023,Vol.24Issue(10):23-25,3.DOI:10.3772/j.issn.1009-5659.2023.10.012

用于集成电路检测的拨码装置设计

韩伟娜 1周文娟 1王士文 1高艳彩1

作者信息

  • 1. 安图实验仪器(郑州)有限公司,河南 郑州 450016
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摘要

关键词

拨码开关/集成电路检测/自动检测装置/电路板

引用本文复制引用

韩伟娜,周文娟,王士文,高艳彩..用于集成电路检测的拨码装置设计[J].中国科技成果,2023,24(10):23-25,3.

基金项目

拨码开关质量改进(ZG-190501-01). (ZG-190501-01)

中国科技成果

1009-5659

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