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基于宽度学习的太赫兹光谱图像小麦霉变识别研究

葛宏义 王飞 蒋玉英 李丽 张元 贾柯柯

量子电子学报2023，Vol.40Issue(3)：360-368,9.
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量子电子学报2023，Vol.40Issue(3)：360-368,9.DOI:10.3969/j.issn.1007-5461.2023.03.007

基于宽度学习的太赫兹光谱图像小麦霉变识别研究

Identification of wheat mold using terahertz images based on Broad Learning System

葛宏义 1王飞 1蒋玉英 2李丽 1张元 1贾柯柯1

作者信息

  • 1. 河南工业大学粮食信息处理与控制教育部重点实验室,河南 郑州 450001||河南工业大学信息科学与工程学院,河南 郑州 450001
  • 2. 河南工业大学粮食信息处理与控制教育部重点实验室,河南 郑州 450001||河南工业大学人工智能与大数据学院,河南 郑州 450001
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摘要

关键词

光谱学/太赫兹/宽度学习/霉变小麦/图像处理

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

葛宏义,王飞,蒋玉英,李丽,张元,贾柯柯..基于宽度学习的太赫兹光谱图像小麦霉变识别研究[J].量子电子学报,2023,40(3):360-368,9.

基金项目

国家自然科学基金(61975053,62271191),河南省自然科学基金优青项目(222300420040),河南省高校科技创新人才支持计划(22HASTIT017),河南工业大学自科创新基金支持计划(2021ZKCJ04) （61975053,62271191）

量子电子学报

OA北大核心CSCDCSTPCD

1007-5461

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