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飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物包裹体研究中的应用

王梦琴 蔡克大 李展平

岩石矿物学杂志2023，Vol.42Issue(3)：451-464,14.
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岩石矿物学杂志2023，Vol.42Issue(3)：451-464,14.DOI:10.20086/j.cnki.yskw.2023.0310

飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物包裹体研究中的应用

Application of time-of-flight secondary ion mass spectrometry(TOF-SIMS)in the study of mineral inclusions

王梦琴 1蔡克大 1李展平2

作者信息

  • 1. 中国地质大学地球科学与资源学院,地质过程与矿产资源国家重点实验室,北京 100083
  • 2. 清华大学化学系,有机光电子与分子工程教育部重点实验室,北京 100084
  • 折叠

摘要

关键词

矿物包裹体/TOF-SIMS/表面分析

分类

天文与地球科学

引用本文复制引用

王梦琴,蔡克大,李展平..飞行时间二次离子质谱(TOF-SIMS)在矿物包裹体研究中的应用[J].岩石矿物学杂志,2023,42(3):451-464,14.

基金项目

国家重点研发计划课题(2018YFA0702600) （2018YFA0702600）

岩石矿物学杂志

OA北大核心CSCDCSTPCD

1000-6524

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