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坩埚表面辐射率对分子束源炉温度场的影响

黄星星 吴进 祝经明 王凤双 侯少毅 卫红 李嘉锋 胡强

机电工程技术2023,Vol.52Issue(5):P.57-60,158,5.
机电工程技术2023,Vol.52Issue(5):P.57-60,158,5.DOI:10.3969/j.issn.1009-9492.2023.05.011

坩埚表面辐射率对分子束源炉温度场的影响

黄星星 1吴进 1祝经明 1王凤双 1侯少毅 1卫红 1李嘉锋 2胡强3

作者信息

  • 1. 季华实验室,广东佛山528251
  • 2. 东北大学,沈阳110167
  • 3. 中国科学院半导体研究所,北京100083
  • 折叠

摘要

关键词

分子束外延/源炉/表面发射率/温度场/仿真分析

分类

通用工业技术

引用本文复制引用

黄星星,吴进,祝经明,王凤双,侯少毅,卫红,李嘉锋,胡强..坩埚表面辐射率对分子束源炉温度场的影响[J].机电工程技术,2023,52(5):P.57-60,158,5.

基金项目

广东省重点领域研发计划项目(2021B0101300001)。 (2021B0101300001)

机电工程技术

1009-9492

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