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基于可变形残差卷积与伸缩式特征金字塔算法的PCB缺陷检测

孙志超 王博 张晓玲

电讯技术2023,Vol.63Issue(6):798-805,8.
电讯技术2023,Vol.63Issue(6):798-805,8.DOI:10.20079/j.issn.1001-893x.220217002

基于可变形残差卷积与伸缩式特征金字塔算法的PCB缺陷检测

PCB Defect Detection Based on Deformable Residual Convolution and Scalable Feature Pyramid Algorithm

孙志超 1王博 2张晓玲1

作者信息

  • 1. 江苏理工学院 电气信息工程学院,江苏 常州 213001
  • 2. 大连东软信息学院 计算机与软件学院,辽宁 大连 116023
  • 折叠

摘要

关键词

印刷电路板/缺陷检测/Faster RCNN/可变形卷积/特征金字塔

分类

信息技术与安全科学

引用本文复制引用

孙志超,王博,张晓玲..基于可变形残差卷积与伸缩式特征金字塔算法的PCB缺陷检测[J].电讯技术,2023,63(6):798-805,8.

基金项目

国家自然科学基金资助项目(61305123) (61305123)

2021年江苏理工学院研究生实践创新项目(XSJCX2157) (XSJCX2157)

电讯技术

OA北大核心CSTPCD

1001-893X

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