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太赫兹时域光谱技术在涂层检测中的研究进展

万玉红 董形影 吴育衡 刘增华

测控技术2023,Vol.42Issue(6):22-35,14.
测控技术2023,Vol.42Issue(6):22-35,14.DOI:10.19708/j.ckjs.2022.10.313

太赫兹时域光谱技术在涂层检测中的研究进展

Research Progress of Terahertz Time-Domain Spectroscopy Technology in Coating Detection

万玉红 1董形影 1吴育衡 2刘增华2

作者信息

  • 1. 北京工业大学理学部,北京 100124
  • 2. 北京工业大学材料与制造学部,北京 100124
  • 折叠

摘要

关键词

涂层/太赫兹时域光谱技术/无损检测/厚度/微结构

分类

金属材料

引用本文复制引用

万玉红,董形影,吴育衡,刘增华..太赫兹时域光谱技术在涂层检测中的研究进展[J].测控技术,2023,42(6):22-35,14.

基金项目

北京市自然科学基金项目(3222001) (3222001)

测控技术

OACSTPCD

1000-8829

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